Compact Digital Next> series
数字元件的最新创新需要更复杂的数字测试仪，其功能超出了简单的逻辑分析仪。工业制造需要硬件级别的处理能力来加快测试时间。与此同时，基于可变电压电平和单或差分信号的新逻辑系列继续使这些更加复杂。
被指定为Compact Digital Test System (DTS) Next>系列的测试仪是Seica对通过基于矢量的技术和专用协议（如边界扫描）测试集成设备的不断需求的响应，而不排除结合电路内测试的需要。
ATE资源–ICT和功能测试
与任何其他Seica解决方案一样，Compact DTS Next>系列测试系统使用VIP平台，其主要功能是提供最佳的技术集成和易用性，为用户提供电路和功能测试所需的所有功能，而不必是专家。
这得益于先进的测量系统（基于ACL专有模块）和VIVA管理软件。第一个是在DSP技术上实现的，集成了所有测试功能，同时实现了完全自动化的测试执行。此外，通过光纤电缆与主PC的通信将对外部干扰的敏感性降至最低。第二个是用简单和用户友好的逻辑设计的，在系统管理和测试例程执行方面提供了操作自主性。快速测试模块是一种图形化软件，专门设计用于在更短的时间内编译和运行功能测试；操作员可以在不了解内部架构或特定编程语言的情况下正确编程任何系统资源。
高达25 MHz的数字测试
除了ACL模块已经在每个TP上具有4个数字通道这一事实之外，随着时间的推移，Seica已经开发并改进了其用于数字测试的硬件，达到了F50模块中集成的性能和能力。
这是一个32数字通道板，可达到25 MHz的模式速率。它包括数字驱动器和传感器（具有高达12V的信号电压编程和一个专用的板载256Kb内存），4个脉冲发生器，也可以在无时钟运行模式下工作（板上每8个通道1个），使其与数字模式同步或异步。所有这些，加上4个独立的频率、周期或脉冲计以及用于双线模拟测试的资源，使F50成为最先进的解决方案。
编程软件
VIVA环境利用了Seica在电子测试方面三十年的经验，提供了一系列选项和功能，使其真正灵活且易于使用。该软件允许用户将ICT和功能测试结合起来，通过功能图形环境提高过程速度和故障覆盖率，引导用户完成测试程序创建和执行步骤。一个专用的环境NVL（中立的VIVA语言）可用于数字测试开发，在那里可以检查、调试和执行程序。该环境允许同时处理和集成模拟、数字功能和“管理”指令，以便实施完整的功能测试。
对于内存编程（例如I2C、SPI协议），NVL允许轻松集成和直接使用标准Intel/Motorola（.bin、.mot、.hex）编程文件。图形工具具有通过外部探头或内部通道进行波形采集的功能，在进行数字功能测试时可进一步方便维修。VIVA软件的开放式体系结构使其与其他编程语言（如Python、VBS）和第三方软件模块（EXE）兼容。和.DLL）。
用于增强实现的不同配置
DTS测试仪的数字部分可以配置为满足不同的要求，并实现最佳性能：
–使用F50板的直接数字通道连接。可用的系统资源完全数字化。
–通过组合F50和S64板实现直接混合通道。此解决方案将在测试点上提供Compact DTS Next>系列测试仪的所有数字和模拟资源。这是一种直接通道配置，因此能够恢复在其他测试系统上实现的现有夹具
–多路复用数字信道。如果需要大量数字信道，Seica还可以提供一种经济高效的解决方案来多路复用数字信道（即使是1:8的比率），使DTS测试仪成为优化系统资源的全数字系统。
新工效学
在保持产品系列核心功能的同时，Compact DTS Next>系列的设计旨在提供即时的在线集成，因为从机械角度来看，使其与自动化生产线不兼容的任何元素都已减少。
真空接收器的使用（可选与标准气动接收器一起提供）使产品更加紧凑，同时根据要求提供了使用不同类型夹具的更大灵活性。
